應用總覽

micro led 顯微螢光影像與光譜檢測

同時獲得每一顆 micro led 光譜與螢光影像

多向與多種類照明光源

博隆多功能顯微鏡結合雷射光

• 多方向光源選擇，舉凡：正光、背光、側光。

• 多波長光源選擇，舉凡：可見光、UV光、近紅外光

• 多種類光源選擇，舉凡：雷射照明、雷射激發、LED等…

• 多工性光源選擇，舉凡：偏振光源與檢測、無偏振光源、延伸景深雷射光源等
  

微分干涉顯微術鑑別TFT線路

DIC是一種可增強對比的顯微技術，用於TFT線路檢測，可增強線路的鑑別度。

掃描式雷射激發單顆micro LED螢光影像與光譜量測

博隆多功能顯微鏡可結合雷射源進行顯微螢光影像與光譜量測

• 在一個視野範圍內精準定位置待測物，量測螢光光譜與取像。

• 結合高速掃描雷射與資料擷取，可獲得快速獲得一個視野範圍內的光譜與影像資訊。

解析度增強型顯微術檢測週期300 nm的二元光柵

透過獨特的設計，達到近乎光學繞射極限的解析能力